RE-DT-18動態(tài)采集儀器 AI采集功能如下：
l *大采樣速率為102.4kHz
l 每一個通道可以設置三種配置方式：全橋、半橋、1/4橋
l 每一個通道可以設置多種激勵電壓：0.625V、1V、1.5V、2V、2.5V、2.75V、3.3V、5V、7.5V、10V
l 每一個通道可以設置單獨的測量類型：橋、應變
l 每一個通道包含一套單獨的校準體系：通道校準、失調清零、分流校準
l 包含數(shù)字觸發(fā)功能，且包含多種觸發(fā)模式
AI數(shù)據(jù)采集注意事項
電磁干擾會嚴重影響RE-DT-18動態(tài)采集儀器的測量精度。為保證輸入通道的噪聲性能，有效降低串擾、環(huán)境噪聲等對采集系統(tǒng)造成的影響，用戶在測量現(xiàn)場連接待測信號源與設備時需要注意以下幾點，以確保采集系統(tǒng)的測量精度。
4.2.1 遠離噪聲源
在信號傳輸至RE-DT-18動態(tài)采集儀器的過程中，應盡量使連接線纜遠離附近的噪聲源，比如熒光燈、開關電源、鎮(zhèn)流器、變壓器、焊接設備、變頻器、電動機等，若必須通過磁場干擾較強的設備附近，需要將信號電纜穿過特定金屬管道，以屏蔽存在的磁場干擾。同時，禁止將連接線纜與電源線纜共用一個金屬管道。另外，應將設備信號電纜盡可能遠離大電流或高電壓的傳輸線，或將該傳輸線與設備信號電纜垂直放置，避免并行放置。
4.2.2 高質量的同軸電纜
選用高質量的同軸電纜可以將比如串擾、傳輸線效應、噪聲等會降低系統(tǒng)精度的影響降到*低。在連接RE-DT-18 時，建議使用具有良好屏蔽效果的同軸電纜。另外，在連接電纜時還需要保證線纜不存在嚴重形變等。
4.3 校準
RE-DT-18模擬量輸入校準方式包含設備校準，分流校準及通道校準。
設備校準是用來校準板卡的硬件誤差。產(chǎn)品出廠時已經(jīng)校準，校準常量被保存在固定的存儲區(qū)域。由于誤差會隨著時間和溫度變化，建議用戶在需要時重新校準。
分流校準及通道校準是用來校準用戶接線或者傳感器設備的誤差。此校準開放于用戶，在采集界面上就可以進行校準。校準說明詳見《
6 計算與校準》。
①AI校準時，必須停止當前的所有采樣任務方可進行。
②在AI校準開始前，請至少將采集卡預熱15分鐘，且自動校準時，采集卡不要連接任何外部信號，即直接將連接到板卡接口的信號線拔下即.4 AI信號連接
RE-DT-18采集的為激勵作用于傳感器后，獲取電壓比率，采集的是電壓比率，而非物理單位。詳細接線方式請參考《
5 使用說明》。
4.5 AI數(shù)據(jù)存儲順序
4.5.1 單通道
當采樣通道總數(shù)量（nSampChanCount）等于1時，通道組內(nèi)只有一個通道配置信息，即為單通道采集。
4.5.2 多通道
當采樣通道總數(shù)量大于1時，通道組內(nèi)有多個通道配置信息，則為多通道采集。
如果用戶使能0、1、2通道，則數(shù)據(jù)排列方式：
通道0數(shù)據(jù)0、通道1數(shù)據(jù)0、通道2數(shù)據(jù)0
通道0數(shù)據(jù)1、通道1數(shù)據(jù)1、通道2數(shù)據(jù)1
通道0數(shù)據(jù)2、通道1數(shù)據(jù)2、通道2數(shù)據(jù)2
I采集模式該采集卡的AI采集模式有按需單點采樣、有限點采樣、連續(xù)采樣。
4.6.1 按需單點采樣
按需單點采樣可簡單、方便的實現(xiàn)各通道單個點的采樣，如圖4.6.1所示。
按需單點采樣功能是指用戶根據(jù)需求，隨時可以獲取各個通道一個采樣點的功能。該功能主要針對簡單采樣或采樣實時性要求較高、數(shù)據(jù)量很少且采樣時間不確定的應用中。采集實時性比較高，可方便的用于PID，PLC等實時的快速伺服閉環(huán)控制系統(tǒng)等場合。用戶在每發(fā)出單點的讀命令(AI_ReadAnalog())后，設備快速的完成一次采集，各通道采集一個點，之后通過USB總線將采集的AI數(shù)據(jù)迅速的傳給PC機。
